反应能力测试装置电路方案参考设计

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反应能力测试装置电路方案参考设计

反应能力测试器可用来检测和训练人的快速反应能力,它有多种结构形式,下面介绍的这个反应能力测试仪,采用十进制计数器4017与若干发光二极管组成,结构较为简单,可作为一种玩具来训练和测试儿童的快速反应能力。电路原理图见下图。

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从原理图中可以看出,这个电路利用十进制计数器4017的输出端驱动一组发光二极管,采用时钟脉冲发生器驱动计数器,使它的输出端不断循环地变换输出,发光二极管轮流变换发光。发光二极管的变换速度可通过改变多谐振荡器的电阻或电容参数,提高或降低时钟脉冲发生器的振荡频率来控制。

时钟脉冲发生器由IC1A、IC1B、R1、C1等组成多谐振荡发生电路,经过IC1C缓冲、整形后送至IC2的CP端(第14脚),IC2组成发光二极管驱动电路,在时钟脉冲的驱动下,输出端Q0~Q9依次输出高电平,驱动发光二极管依次发光。为了增加训练和测试难度,本电路只使用了十个输出端中的七个,而且采用了对输出端与发光二极管的不均匀连接,使被测试者难以掌握发光二极管的变化规律,有利于提高测试效果。本电路中的不均匀连接是将输出端中的Q0、Q1、Q7空置,并将Q5与Q6合并。这样,发光二极管的显示将呈现快、慢、间隔不均匀,以增加测试难度,让测试者不容易掌握显示规律。

电源接通后,电路就开始工作,发光二极管不停地循环发光。S1为测试开关,按下此键后,将IC2的EN端(第13脚)置于高电平,计数器停止工作并将输出结果予以保留,发光二极管显示为最后一个输入脉冲时的状态。

本文转载自:今日头条(版主:电子工程师笔记)
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